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Rasterkraftmikroskope

Zur topologischen Untersuchung unserer Proben stehen uns zwei Rasterkraftmikroskope zur Verfügung. Das Veeco Bioscope II AFM und das Park XE 150 AFM. Beide Systeme sind an ein Labram High-Resolution Spektrometer angekoppelt.

 

Das Bioscope II ist über ein invertiertes Mikroskop mit dem Labram verbunden und eignet sich daher sehr gut zur Untersuchung von transparenten Proben. Bei solchen Proben kann eine Raman- zeitgleich mit einer Rasterkraft-Messung durchgeführt werden.

 

 

 

 

Das Park AFM hingegen verfügt neben der Fähigkeit der "tip-enhanced"-Raman-Messung über einen piezoelektrischen Probentisch durch den eine nanometergenaue Navigation auf der Probe gewährleisted wird.

 

 

 

 

 

 

Mit beiden Systemen messen wir Nanosysteme mit einer hohen räumlichen Auflösung. In seiner einfachsten Anwendung zielt dieses System darauf ab, die topologische Information einer Probe (wo liegt ein Nanoteilchen, ist eine Röhre gerade oder gekrümmt) mit Lichtstreuung oder Lumineszenz zu verknüpfen.

Weiterführend ist die Methode der spitzenverstärkten Raman-Streuung. Im Nahfeld einer metallischen Spitze wird das Ramansignal um mehrere Größenordnungen verstärkt. Durch diesen Trick können einzelne Moleküle detektiert oder eine räumliche Auflösung unterhalb der Lichtwellenlänge erzielt werden. Die Kopplung der Rasterkraft- und Ramanmikroskopie ist eine junge experimentelle Methode, die im Bereich von Nanosystemen, Biomaterialien usw. sehr populär wird.