Die Nahfeldmikroskopie hat eine viel höhere räumliche Auflösung als herkömmliche Mikroskope, die auf die halbe Wellenlänge begrenzt ist (Abbe-Beugungsgrenze). Mit dieser Technik untersuchen wir die optischen Eigenschaften von Proben im Nanobereich, die Licht-Materie-Wechselwirkung und die Materialzusammensetzung. Elektronische Eigenschaften und Schwingungen (Phononen) werden mit der Nahfeldspektroskopie untersucht und zwar mit einem Auflösungsvermögen von bis zu 10 nm.

In unserer Gruppe haben wir einen einzigartigen Aufbau entwickelt, der ein Nahfeldmikroskop mit Nahfeldspektroskopie kombiniert und dabei eine abstimmbare Anregung ermöglicht (duales s-SNOM). Damit können wir hochauflösende Bilder aufnehmen, spitzenverstärkte Raman-Streuung, Photolumineszenz und Absorption auf der Nanoskala messen.

Derzeit liegt unser Fokus auf van-der-Waals-Materialien wie Graphen, MoS2 und WS2 sowie auf Materialien für neuartige optische Geräte und Bauelemente, wie LEDs, Detektoren und Laserdioden. Wir untersuchen, wie Exzitonen (stark gebundene Elektron-Loch-Paare) mit Licht koppeln und sich durch das Material bewegen, welchen Einfluss die Umgebung auf die optischen und elektronischen Eigenschaften von Materialien haben und vieles mehr.