Die Simulation und das Verständnis der an Oberflächen stattfindenden Elementarprozessen sowie der elektronischen und exzitonischen Kopplung zwischen Schaltermolekülen und Substrat sind auf exakte, experimentell bestimmte Strukturdaten angewiesen. Ziel des Teilprojektes ist es daher,

(1) mittels Röntgendiffraktion und –Reflektometrie die Struktur, d.h. Einheitszelle, Elektronendichteverteilung und epitaktische Orientierung selbstassemblierter Monolagen (SAMs) von molekularen Schaltern auf Metall-, Halbleiter-, und Graphenoberflächen zu bestimmen. Parallel zu Röntgendiffraktionsmessungen sollen die optischen Konstanten der Molekülschicht durch optische Reflexionsmessungen bestimmt und damit der Schaltvorgang nachgewiesen sowie der Einfluss der exzitonischen Kopplung auf das Absorptionsspektrum bestimmt werden.

(2) Durch zeitaufgelöste in situ Röntgenmessungen soll der Herstellungsprozess von molekularen Schichten untersucht und auf möglichst hohe Schalteffizienz hin optimiert werden.

(3) Optisch induzierte Strukturänderungen beim Schalten sollen auf molekularer Skala mit zeitaufgelöster Röntgendiffraktion nachgewiesen werden.

 

HU Berlin: Coherent Optics with X-rays - Time Resolved Surface Science